AES & FIB在材料分析中应用

活动信息

  • 开始时间:2021-05-19 09:30
  • 活动地点:腾讯会议:557978765
  • 主讲人:张元,席德圣

活动简介

报告一:将介绍日本电子场发射俄歇谱仪的在表面高灵敏度及价态表征测试等技术特点,研讨俄歇与XPS/ SEM/WDS技术优势。

报告二:将介绍日本电子最新聚焦离子束扫描电镜JIB-4700F的技术特点以及各领域潜在应用。

时间:5月19日9:30-11:30;地点:腾讯会议:会议号557978765,密码123456

主讲人介绍

张元,中国,群众,毕业于日本京都大学,目前任日本电子表面分析高级应用工程师,负责扫描电镜及场发射俄歇谱仪的技术支持。 席德圣,中国,群众,硕士毕业于天津大学,曾在天津理工大学测试中心工作负责聚焦离子束扫描电镜的运行维护,目前任职日本电子聚焦离子束扫描电镜应用支持工程师。